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设备主要参数 V-SR-100 V-SR-200
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测量方式 可见 VIS,反射R 紫外UV, 可见 VIS,反射R
波长范围 380--1050nm 250--1050nm
厚度测量 15nm~250um 2nm--200um
光源 钨卤灯 钨卤灯+氕氘灯
重复精度 0.1 nm
测量时间 < 1秒
准确性 2nm 或<0.5%
光学膜厚测量仪
2018-09-05 16:09 点击:3726

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