检测设备
光学膜厚测量仪
2018-09-05 16:09  点击:3725
价格:未填
发货:3天内
设备主要参数          V-SR-100                 V-SR-200
------------------------------------------------------------------------
测量方式            可见 VIS,反射R       紫外UV, 可见 VIS,反射R
波长范围              380--1050nm             250--1050nm
厚度测量             15nm~250um              2nm--200um
光源                       钨卤灯                    钨卤灯+氕氘灯
重复精度                                  0.1 nm
测量时间                                  < 1秒
准确性                                2nm  或<0.5%
联系方式
发表评论
0评